yl6809永利官网谢素原教授课题组关于电喷雾解吸质谱（DESI-MS）研究氢键强度的研究取得进展，相关结果发表在近期的化学学科高端期刊J. Am. Chem. Soc. (2013, 135, 6122−6129)上。
氢键是一种常见的分子间作用力，它普遍存在于无机化学、有机化学、超分子化学、医学和药物化学的相关材料中。氢键的键能通常在0.2-40 kcal/mol之间，氢键强度对相关材料的物理和化学性能（如酶催化反应、螯合作用等）有着重要的影响。目前研究氢键的常用方法有核磁和红外光谱，但是这两种方法均不能定量分析氢键的键能。依据键能与键长之间的定量关系，可通过晶体学方法（如X-射线衍射或中子衍射）研究晶体中的氢键强度，但它的灵敏度和准确度在很大程度上依赖于晶体的堆积效果，这一效果是由各种分子间力（如氢键、卤键、π-π作用等）共同作用的结果，晶体学本身无法将氢键与其他分子间作用力区分开来。因此，迫切需要发展一种优于晶体学用于测量氢键的方法。谢素原课题组得到分析学科江云宝、王秋泉等课题组的帮助，利用近几年新兴的电喷雾解吸质谱（DESI-MS）结合碰撞诱导解离（CID）技术，发展了一种测量苯并噻唑与羧酸间的O-H···N和N-H···O两种氢键强度的方法，并通过一系列含有类似氢键的晶态物质验证了该方法的准确性，同时，对电喷雾解吸过程与机理也作了研究。
该研究工作得到国家自然科学基金委的资助。论文的第一作者是苏海峰（博士生），宁德师范学院的薛岚副教授也共同完成了该研究（薛岚为我校访问学者）。
论文链接：http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/ja312133k
